雷射老化測(cè)試機(jī) - Burn In Tester
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產(chǎn)品名稱(chēng): 雷射老化測(cè)試機(jī) - Burn In Tester
產(chǎn)品型號(hào): Burn In Room
產(chǎn)品展商: 其他品牌
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
雷射老化測(cè)試機(jī) - Burn In Tester
雷射老化測(cè)試機(jī) - Burn In Tester
的詳細(xì)介紹
雷射老化測(cè)試機(jī) - Burn In Tester
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特性 & 規(guī)格
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電壓：三相380V，50/60Hz，5線(含接地、中性線)
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外觀尺寸；寬：1780mm。深：1260mm。高：2110mm。
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適用產(chǎn)品：長(zhǎng)波段1000~1600nm、光功率10mW。
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可同時(shí)提供 To-Can 內(nèi) LD 電流；監(jiān)控電流(If)及電壓(Vf)。
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可同時(shí)提供 To-Can 內(nèi) PD 電壓；監(jiān)控電流(Im)及電壓(VIPD)。
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可獨(dú)立操作與設(shè)定的上下烤爐。
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可獨(dú)立設(shè)定測(cè)試板電流與To-Can模式。
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可設(shè)定五組波段燒機(jī)時(shí)間。
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彩色介面，清楚&方便操作。
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PC控制，操作穩(wěn)定，擴(kuò)充機(jī)能強(qiáng)。
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烤箱溫度均勻度：120℃ ± 3℃(11點(diǎn)溫度感測(cè)滿(mǎn)載測(cè)試)
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烤箱降溫速度：
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空載測(cè)試：120℃至30℃約20~25分鐘。
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滿(mǎn)載測(cè)試：120℃至30℃約30分鐘。
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烤箱每次燒機(jī)*多可燒機(jī)2160顆 To-Can(2 * 12 * 90)；共分上烤爐與下烤爐；
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上烤爐：可置放12組測(cè)試板。
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下烤爐：可置放12組測(cè)試板。
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燒機(jī)電流範(fàn)圍：20~200mA。
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燒機(jī)電流時(shí)間：01~99小時(shí)。
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機(jī)臺(tái)模式切換：
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TO56：可經(jīng)由軟體切換：A-Type、B-Type、C-Type。
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TO18：可經(jīng)由軟體切換：X-Type、Y-Type、Z-Type。
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機(jī)臺(tái)型號(hào)
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No
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編號(hào)
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描述
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1
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TWC-LDTB-100
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LD Burn In老化測(cè)試機(jī)；有壓縮機(jī)，測(cè)試板 24PCB * 90PCS
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2
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TWC-LDTB-101
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LD Burn In老化測(cè)試機(jī)；有壓縮機(jī)，測(cè)試板 24PCB * 90PCS；PD供電及監(jiān)控功能。
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3
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TWC-LDTB-200
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LD Burn In老化測(cè)試機(jī)；無(wú)壓縮機(jī)，測(cè)試板 24PCB * 90PCS
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4
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TWC-LDTB-201
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LD Burn In老化測(cè)試機(jī)；無(wú)壓縮機(jī)，測(cè)試板 16PCB * 90PCS
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5
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TWC-LDTB-202
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LD Burn In老化測(cè)試機(jī)；無(wú)壓縮機(jī)，測(cè)試板 5PCB * 90PCS
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6
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TWC-LDTB-203
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LD Burn In老化測(cè)試機(jī)；無(wú)壓縮機(jī)，測(cè)試板 24PCB * 64PCS；PD供電及監(jiān)控功能。
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