一、實驗?zāi)康?

冷熱沖擊測試是將試驗樣品交替暴露于低溫和高溫空氣(或合適的惰性氣體)中，使其經(jīng)受溫度快速變化的影響。用以確定元件，設(shè)備和其他產(chǎn)品經(jīng)受環(huán)境溫度迅速變化的能力。

二、測試參考標(biāo)準(zhǔn)

參考標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.22; IEC 60068-2-14; EIA-364-32; MIL-STD-202

三、試驗用途

試驗主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在溫度急劇變化的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗。

該試驗主要用于對產(chǎn)品按照國家軍用標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在高溫與低溫瞬間變化條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗用。

四、實驗室設(shè)備參數(shù)

試驗溫度范圍：-40℃～150℃

高溫設(shè)定范圍：0℃～150℃

低溫設(shè)定范圍：0℃～-40℃

溫變速率：≤5Min

內(nèi)箱尺寸：800×800×800mm