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隨著移動(dòng)通信技術(shù)的不斷**和進(jìn)步,人類社會(huì)已經(jīng)邁入了信息時(shí)代。在信息時(shí)代的飛速發(fā)展下,各類電子智能及通訊設(shè)備不斷推陳出新,為人們的生活帶來便利。在眾多電子及通訊產(chǎn)品中,各個(gè)零部件對(duì)于產(chǎn)品的使用都發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。其中,鉭電容器作為電容器中體積小而又能達(dá)到較大電容量的產(chǎn)品,因其優(yōu)異的性能,不僅廣泛應(yīng)用于軍事通訊,航天等領(lǐng)域,還在工業(yè)控制、影視設(shè)備、通訊儀表等產(chǎn)品中大量使用。另外,由于鉭電容耐電壓及電流能力較弱,常見的三種失效模式主要為電壓型、電流型和發(fā)熱型,并在失效后容易引起爆裂燃燒。因此,鉭電容在應(yīng)用前需要對(duì)其進(jìn)行失效分析。為了考察環(huán)境溫度變化對(duì)鉭電容器的影響,法萊寶熱流儀Dragon無疑是優(yōu)選。它可根據(jù)“ESCC 浪涌電流鉭電容”標(biāo)準(zhǔn)對(duì)鉭電容器進(jìn)行檢測(cè)認(rèn)證。
法萊寶熱流儀Dragon
法萊寶熱流儀Dragon能進(jìn)行快速的升降溫,進(jìn)而模擬極限的溫度環(huán)境,對(duì)零部件進(jìn)行熱沖擊。Dragon采用空冷控溫模式,溫度范圍可從-72℃至+225℃之間進(jìn)行超長(zhǎng)連續(xù)控溫。如下圖1所示,熱流儀Dragon正在對(duì)電容器進(jìn)行測(cè)試,將電容器安裝在電子器件上,通入穩(wěn)定輸出的直流電,并在輸出端產(chǎn)生很小的噪聲(波紋),其測(cè)試目的是驗(yàn)證電容器在極端溫度下能否正常運(yùn)行。
圖1 鉭電容器測(cè)試—新型Dragon熱流儀
通常,測(cè)試條件為在-55℃至+85℃之間對(duì)電容器進(jìn)行10次循環(huán)充電和放電(極限測(cè)試高溫可調(diào)至+125℃或+200℃,可根據(jù)不同的應(yīng)用進(jìn)行調(diào)整)。電子組件電路開關(guān)示意圖如下圖2所示,當(dāng)機(jī)械開關(guān)1閉合時(shí),向電容器施加一定的電壓,該電路視為短路,因而電流值很大;電容器處于充電狀態(tài),電流值幾乎為零。當(dāng)開關(guān)2閉合時(shí),電路電壓為0V,此時(shí)電容器處于放電狀態(tài),直至電流幾乎為零。
圖2 檢測(cè)中的電子組件
通過10次循環(huán)充電和放電后,對(duì)每個(gè)電容器進(jìn)行漏電流檢測(cè),考察溫度變化對(duì)其的影響。
泄漏電流檢測(cè)
圖4顯示為電容器完全充電至其額定電流(Ur)時(shí)通過電容器的剩余電流值(I),每次充電后5min內(nèi)開始監(jiān)測(cè),單位μA。漏電流相當(dāng)于電容器的絕緣電阻,因此必須盡可能低。泄漏電流值是電容值和電阻值的函數(shù),下圖5記錄了漏電流值隨溫度的變化。
(20℃時(shí))
如下圖6和圖7所示,在短時(shí)間內(nèi)漏電流值幾乎為零的電容器件可通過失效分析試驗(yàn);而隨著外界溫度變化導(dǎo)致漏電流值產(chǎn)生極**動(dòng)的電容器視為失效組件,并在失效后容易引起爆裂燃燒。
圖6. 電容器的漏電流隨時(shí)間變化圖
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